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GBT 12085.15-2010 光学和光学仪器环境试验方法第15部分：宽带随机振动（数字控制）与高温、低温综合试验

1.18 M

GBT 12085.14-2010 光学和光学仪器环境试验方法第14部分：露、霜、冰

998.83 K

GBT 12085.13-2010 光学和光学仪器环境试验方法第13部分：冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验

1.1 M

GBT 12085.12-2010 光学和光学仪器环境试验方法第12部分：污染

1.3 M

GBT 12085.11-2010 光学和光学仪器环境试验方法第11部分：长霉

1.42 M

GBT 12085.10-2010 光学和光学仪器环境试验方法第10部分：振动(正弦)与高温、低温综合试验

994.32 K

GBT 12085.9-2010 光学和光学仪器环境试验方法第9部分：太阳辐射

676.4 K

GBT 12085.8-2010 光学和光学仪器环境试验方法第8部分：高压、低压、浸没

941.52 K

GBT 12085.7-2010 光学和光学仪器环境试验方法第7部分：滴水、淋雨

1.22 M

GBT 12085.6-2010 光学和光学仪器环境试验方法第6部分：砂尘

763.9 K

GBT 12085.5-2010 光学和光学仪器环境试验方法第5部分：低温、低气压综合试验

976.87 K

GBT 12085.4-2010 光学和光学仪器环境试验方法第4部分：盐雾

1.22 M

GBT 12085.3-2010 光学和光学仪器环境试验方法第3部分：机械作用力

1.21 M

GBT 12085.2-2010 光学和光学仪器环境试验方法第2部分：低温、高温、湿热

1.09 M

GBT 12085.1-2010 光学和光学仪器环境试验方法第1部分：术语、试验范围

995.93 K

GBT 11804-2005 电工电子产品环境条件术语

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GBT 11684-2003 核仪器电磁环境条件与试验方法

1.53 M

GBT 11606-2007 分析仪器环境试验方法

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GBT 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则

649.41 K

GBT 10593.2-2012 电工电子产品环境参数测量方法第2部分盐雾

793.26 K

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